Microscopio elettronico SEM-FEG con microanalisi elementare EDX AZtec
Microscopio elettronico SEM-FEG con microanalisi elementare EDX AZtec
Responsabile scientifico
Referenti per informazioni
Marca
Zeiss
Descrizione utilizzo
Microscopio elettronico ad emissione di campo (FEG) con colonna GEMINI Zeiss SUPRA 40 e microanalisi elementare EDX Oxford-AZtec
Disponibilità per conto terzi
si
Anno di acquisizione
2008