Microscopio elettronico SEM-FEG con microanalisi elementare EDX AZtec
Microscopio elettronico SEM-FEG con microanalisi elementare EDX AZtec
Responsabile scientifico
Referenti per informazioni
Marca
Zeiss
Descrizione utilizzo
Microscopio elettronico ad emissione di campo (FEG) con colonna GEMINI Zeiss SUPRA 40 e microanalisi elementare EDX Oxford-AZtec
Disponibilità per conto terzi
si
Anno di acquisizione
2008
Creato: Venerdì, 5 Luglio, 2019 - 11:30
Ultima modifica: Mercoledì, 3 Novembre, 2021 - 13:00
A cura di: GALLI Gianfranco