MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE - SEM - JSM 6400

MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE - SEM - JSM 6400

Responsabile scientifico
Referenti per informazioni
Descrizione utilizzo

Il Microscopio Elettronico a Scansione JEOL 6400 corredato di Microanalisi EDS Oxford INCA è uno strumento di tipo analitico consente di eseguire osservazioni morfologiche e analisi chimiche qualitative, semi-quantitative e quantitative di alta qualità su materiali di interesse geologico, metallurgico, biologico, chimico, farmaceutico, ingegneristico, architettonico e per la diagnostica dei Beni Culturali

Disponibilità per conto terzi
si
Anno di acquisizione
1997
Creato: Mercoledì, 26 Giugno, 2019 - 10:39
Ultima modifica: Mercoledì, 29 Gennaio, 2020 - 16:57
A cura di: CAVOZZI Cristian