SISTEMA DI MICROANALISI EDS PER SEM ZEISS SUPRA 40

Responsabile scientifico

Referenti per informazioni

Struttura

Marca

OXFORD

Descrizione utilizzo

Caratterizzazione composizione e morfologia di materiali

Disponibilità per conto terzi

Anno di acquisizione

2012

Creato: Mercoledì, 19 Giugno, 2019 - 15:47

Ultima modifica: Venerdì, 24 Gennaio, 2020 - 14:15