SISTEMA DI MICROANALISI EDS PER SEM ZEISS SUPRA 40
SISTEMA DI MICROANALISI EDS PER SEM ZEISS SUPRA 40
Responsabile scientifico
Referenti per informazioni
Struttura
Marca
OXFORD
Descrizione utilizzo
Caratterizzazione composizione e morfologia di materiali
Disponibilità per conto terzi
si
Anno di acquisizione
2012