Il microscopio Nanoscope IIIA è un microscopio multifunzionale in grado di operare in diversi modi di scansione e permette l'osservazione di campioni di diversa natura potendo raggiungere una risoluzione atomica. Esso può funzionare sia come microscopio a forza atomica (AFM) che come microscopio ad effetto tunnel (STM). È possibile rilevare anche le caratteristiche topografiche elettriche e magnetiche delle superfici.

Caratteristiche:

• Testa di misura per AFM e STM in contact mode e in tapping mode per campioni solidi in aria. 
• Cella per osservazione AFM in liquidi. 
• 3 scanners disponibili per misure ad alta risoluzione: 
  • scansioni da 0.4 x 0.4 µm; range verticale: 0.4 µm 
  • scansioni da 10 x 10 µm; range verticale: 2.5 µm 
  • scansioni da 125 x 125 µm; range verticale: 5 µm
• Phase extender
• piattaforma antivibrante