Il microscopio Park mod. XE-100 è un microscopio a forza atomica multifunzionale in grado di operare in diversi modi di scansione e permette l’osservazione di campioni di diversa natura, di piccole e medie dimensioni,potendo raggiungere una risoluzione atomica. Esso può funzionare sia in “contact mode” sia in “true non contact” mode. È possibile rilevare anche le caratteristiche magnetiche dei campioni in superficie (MFM).

CARATTERISTICHE TECNICHE

• Scanners XY & Z  separati.    XY scanner : 50 µm

• Controreazione “closed loop”  oppure “open loop”

• Ottica “on axis” 

• Z scanner:  escursione max. 12 µm 

• Testa di misura per AFM in contact mode, true non-contact, dynamic contact, LFM,       forza vs. distanza.    Phase imaging.   

• Magnetic Force Microscopy (MFM) 

• Camera ad alta risoluzione (1032x778) con uscita digitale (campo visivo: 480 x 360 µm).

• Dimensioni del campione max: 100 x 100 µm , altezza  20 µm.

• Peso del campione max: 500g.

• piattaforma antivibrante attiva TS 150.

• Cabinet con schermatura acustica.

• Opzionale, previa opportuna riconfigurazione,: Dynamic Liquid Cell con  riscaldatore/raffreddamento.  Peltier utilizzabile tra 4 e 60 C.