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Microscopio a forza atomica Thermomicroscope mod. CP Research+

Descrizione

Caratterizzazione di nanostrutture e superfici per la fisica e le scienze dei materiali. Sono disponibili due scanner: 100 micron per morfologia a larga scala, e 5 micron per elevata risoluzione. Una cella Peltier consente misure nell'intervallo 5-40 °C

Informazioni

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Localizzazione: XXXXXX
Inventario: XXXXXX
Numero di serie: XXXXXX
Valore: XXXXXX