Salta al contenuto principale

SISTEMA DI MICROANALISI OXFORD LINK ISIS L300Q PER MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE JEOL JSM 6400

Descrizione

sistema di microanalisi abbinata al SEM JSM 6400

Informazioni

Alcuni dei seguenti campi sono accessibili solo agli utenti autorizzati, dopo il login
Localizzazione: XXXXXX
Inventario: XXXXXX
Numero di serie: XXXXXX
Valore: XXXXXX